相同像素数量的两个传感器能否使用同一镜头？

可能可以，但不能自动认定。必须比较有效尺寸、像素大小、CRA、盖板堆栈、光谱、FOV 和摄像头任务。

镜头是否必须在传感器奈奎斯特频率处具有很高 MTF？

没有通用硬性规则。奈奎斯特是采样边界，相关频率与对比度目标应由任务、传感器处理和噪声预算决定，再通过整机确认。

传感器微透镜和像素具有角度相关响应。即使像圈覆盖传感器，CRA 不匹配仍可能造成阴影、色彩变化或边缘信号下降。

仅有传感器系列名称或像素等级并不够。应记录具体料号、有效阵列、光学尺寸、像素大小、微透镜结构、彩色或 RGB-IR 阵列、盖板和工作模式。裁切、合并像素及 HDR 模式都可能改变有效成像区域或图像质量重点。

更换传感器应视为光学接口变更。两个分辨率相同的传感器仍可能具有不同阵列尺寸、CRA 接受范围和滤光堆栈。

像素大小决定传感器采样尺度，奈奎斯特频率等于像素尺寸两倍的倒数。它是采样边界，不是通用的镜头合格线。评审频率应由最小场景特征、算法需求、解码方式和信噪比预算共同确定。

应评估多个频率。低频反映大结构对比度，高频反映细节，两者都可能影响感知质量。

像圈必须在公差条件下覆盖有效传感器，但覆盖并不能证明兼容。每个视场位置的主光线以一定角度进入传感器，会与微透镜、色彩阴影和量子效率相互作用。

应取得传感器 CRA 指导数据，并与镜头全像高的主光线角曲线比较，同时加入镜头偏心、传感器位移和组装倾斜，而不只看标称几何。

盖板与滤光片的厚度、折射率、楔角及其到传感器的距离都会影响焦点和像差；超广角光线通过干涉滤光片时还会看到不同的有效光谱响应。

应使用目标可见光、NIR 或 RGB-IR 权重和实际 F/#。滤光片供应商、厚度或镀膜变化时，需要重新检查焦点与光谱表现。

标称曲线无法覆盖全部制造和处理影响。应制作具有代表性的摄像头模组，在相关温度和照明条件下评审全视场 MTF、阴影、色彩、噪声、HDR 伪影和任务图像。

验证记录中应冻结传感器版本、镜头版本、滤光片与 ISP 假设，并规定工程变更后必须重复的项目。